更(geng)新時間:2017-01-19
MD-1粒(li)(li)度分析(xi)儀型號采用斯(si)托克斯(si)原理爾定律測定分布(分散(san)度)。與常(chang)規方法相比省去(qu)天平稱重和顯微鏡(jing)數(shu)數(shu)等繁雜工作(zuo)。讀數(shu)直(zhi)觀,測定結果自動儲存,也(ye)可(ke)由用戶根據需要(yao)選擇,把結果通過顯示屏或(huo)打印機輸出。儀器具有掉電保護(hu)功(gong)能,可(ke)儲存40 次粒(li)(li)度分布數(shu)據,儲存的數(shu)據可(ke)根據用戶意(yi)圖進行清(qing)除。是粉塵實(shi)驗室使用的理想(xiang)儀器。
MD-1粒度分析儀型號
采(cai)用(yong)斯托克斯原(yuan)理和(he)比爾定(ding)律(lv)測定(ding)粉(fen)塵粒度分布(bu)(分散度)。與常規(gui)方法相(xiang)比省去天平稱重和(he)顯微鏡數數等繁雜工作。讀數直觀,測定(ding)結果(guo)自動儲存(cun),也可(ke)(ke)由用(yong)戶(hu)根據(ju)需要選(xuan)擇,把結果(guo)通過顯示屏(ping)或(huo)打印機輸出(chu)。儀(yi)器具有掉電保護功能,可(ke)(ke)儲存(cun)40 次粒度分布(bu)數據(ju),儲存(cun)的數據(ju)可(ke)(ke)根據(ju)用(yong)戶(hu)意圖進行(xing)清除。是粉(fen)塵實驗室(shi)使(shi)用(yong)的理想儀(yi)器。
MD-1粒度分析儀型號采用斯托克(ke)斯原(yuan)理爾定律測(ce)定分(fen)布(bu)(分(fen)散度(du))。與常規(gui)方(fang)法相(xiang)比省去天平稱重和顯(xian)微(wei)鏡數(shu)數(shu)等繁(fan)雜工作。讀數(shu)直觀,測(ce)定結果自動儲(chu)存,也可由用戶根(gen)據需要選擇,把結果通(tong)過顯(xian)示屏或(huo)打印機輸出。儀器具(ju)有掉電保護功能,可儲(chu)存40 次粒度(du)分(fen)布(bu)數(shu)據,儲(chu)存的數(shu)據可根(gen)據用戶意圖進行清除(chu)。是粉塵實(shi)驗室使用的理想儀器。
MD-1技(ji)術指標(biao):
測定(ding)范圍:
(粉塵粒度分布) 0~150μm(測定粉塵累積質量篩上分布,粉塵粒度分級為150、100、80、60、50、40、30、20、10、8、7、6、5、4、3、2、1μm)
測定誤差: d<40μm時,粉(fen)塵粒度分布重復測(ce)定(ding)誤(wu)差≤10%,
測量誤(wu)差(cha): (120004a微粒標準物質為試驗粉塵(chen)) d50=10~13μm
工作電源: 220V AC
外形尺寸(cun): (430×285×300)mm
重 量:15kg