更(geng)新時間:2016-04-15
MD-1粒度粒形分析儀儀采(cai)用(yong)斯(si)托克斯(si)原理和比爾定(ding)律測(ce)定(ding)分布(分散度)。與常規(gui)方法(fa)相比省(sheng)去天平稱(cheng)重和顯微鏡(jing)數數等繁(fan)雜工作。讀(du)數直觀,測(ce)定(ding)結(jie)果(guo)自動儲(chu)存,也可由用(yong)戶根(gen)據(ju)(ju)需要(yao)選擇,把結(jie)果(guo)通過(guo)顯示屏或(huo)打印機輸出。儀器(qi)(qi)具(ju)有(you)掉電(dian)保護(hu)功(gong)能,可儲(chu)存40 次粒度分布數據(ju)(ju),儲(chu)存的數據(ju)(ju)可根(gen)據(ju)(ju)用(yong)戶意圖(tu)進行(xing)清除。是粉塵(chen)實(shi)驗室(shi)使用(yong)的理想儀器(qi)(qi)。
MD-1粒度粒形分析儀儀(yi)采(cai)用(yong)(yong)斯托克斯原理(li)和比(bi)爾定律測定粉塵(chen)粒(li)度(du)分布(bu)(bu)(分散度(du))。與常規方法相比(bi)省去天平稱(cheng)重(zhong)和顯微鏡數(shu)數(shu)等(deng)繁雜工(gong)作。讀數(shu)直觀,測定結(jie)果自動(dong)儲存,也可由用(yong)(yong)戶(hu)根據需要(yao)選擇,把結(jie)果通過顯示(shi)屏或(huo)打(da)印機輸(shu)出。儀器具(ju)有(you)掉電保護功能,可儲存40 次(ci)粒(li)度(du)分布(bu)(bu)數(shu)據,儲存的數(shu)據可根據用(yong)(yong)戶(hu)意圖進行清除。是(shi)粉塵(chen)實驗(yan)室使用(yong)(yong)的理(li)想儀器。
MD-1粒度粒形分析儀技術指標(biao):
MD-1測定范圍:(粉(fen)塵粒度分布) 0~150μm(測定粉(fen)塵(chen)累積質(zhi)量(liang)篩(shai)上分(fen)布(bu),粉(fen)塵(chen)粒度(du)分(fen)級為150、100、80、60、50、40、30、20、10、8、7、6、5、4、3、2、1μm)
測定誤差:d<40μm時,粉塵粒(li)度分布重復(fu)測定誤差≤10%,
測量誤差(cha): (120004a微粒(li)標準(zhun)物(wu)質為試(shi)驗粉塵) d50=10~13μm
工作電源(yuan):220V AC
外(wai)形尺寸:(430×285×300)mm
重(zhong) 量:15kg