更新時間:2016-04-15
MD-1顆粒度分析儀(yi)采(cai)用斯托克斯原(yuan)理(li)和比(bi)爾定律測(ce)定分(fen)(fen)布(分(fen)(fen)散度(du))。與(yu)常規方法相比(bi)省(sheng)去天平(ping)稱(cheng)重和顯微鏡數(shu)數(shu)等繁雜工作。讀(du)數(shu)直觀(guan),測(ce)定結(jie)果自動(dong)儲(chu)存(cun)(cun),也可由用戶根(gen)據(ju)需要選擇,把結(jie)果通過顯示屏或打印機(ji)輸出。儀(yi)器具有掉電保護功能(neng),可儲(chu)存(cun)(cun)40 次(ci)粒度(du)分(fen)(fen)布數(shu)據(ju),儲(chu)存(cun)(cun)的數(shu)據(ju)可根(gen)據(ju)用戶意(yi)圖進(jin)行清除(chu)。是(shi)粉塵(chen)實驗室使用的理(li)想儀(yi)器。
MD-1顆粒度分析儀采用斯托克斯原理和(he)(he)比(bi)爾定律測定粉(fen)塵粒(li)度分(fen)布(分(fen)散(san)度)。與(yu)常(chang)規方(fang)法相比(bi)省(sheng)去天平(ping)稱重(zhong)和(he)(he)顯(xian)微鏡數(shu)(shu)(shu)數(shu)(shu)(shu)等繁(fan)雜工作(zuo)。讀數(shu)(shu)(shu)直觀,測定結(jie)果(guo)自動儲存(cun),也(ye)可(ke)由用戶根據需要選擇,把(ba)結(jie)果(guo)通過顯(xian)示屏或(huo)打(da)印機輸出。儀器具有掉(diao)電(dian)保護(hu)功(gong)能,可(ke)儲存(cun)40 次粒(li)度分(fen)布數(shu)(shu)(shu)據,儲存(cun)的(de)數(shu)(shu)(shu)據可(ke)根據用戶意圖進(jin)行清除。是(shi)粉(fen)塵實(shi)驗室使用的(de)理想儀器。
MD-1顆粒度分析技術指標:
MD-1測定范圍:(粉塵粒(li)度分(fen)布) 0~150μm(測定粉塵累(lei)積質量(liang)篩上分(fen)布,粉塵粒度分(fen)級(ji)為150、100、80、60、50、40、30、20、10、8、7、6、5、4、3、2、1μm)
測定誤差(cha):d<40μm時(shi),粉塵粒度(du)分(fen)布(bu)重復測定(ding)誤差(cha)≤10%,
測(ce)量誤差: (120004a微粒(li)標準物(wu)質為試驗粉塵) d50=10~13μm
工作電源:220V AC
外形(xing)尺寸:(430×285×300)mm
重 量:15kg