更新時間:2016-04-15
MD-1粒度分析儀供應儀采用(yong)(yong)斯(si)托(tuo)克斯(si)原理和比爾定律(lv)測(ce)定分(fen)布(bu)(bu)(分(fen)散度(du))。與常規方法相比省(sheng)去天平稱重和顯微鏡數(shu)數(shu)等繁(fan)雜工作。讀數(shu)直觀,測(ce)定結(jie)果自動儲(chu)存(cun),也可(ke)由用(yong)(yong)戶根據(ju)需要選擇(ze),把結(jie)果通過顯示屏(ping)或(huo)打印(yin)機輸(shu)出。儀器具有掉電保護功能,可(ke)儲(chu)存(cun)40 次粒(li)度(du)分(fen)布(bu)(bu)數(shu)據(ju),儲(chu)存(cun)的數(shu)據(ju)可(ke)根據(ju)用(yong)(yong)戶意圖進行清除。是粉(fen)塵實驗室使用(yong)(yong)的理想(xiang)儀器。
MD-1粒度分析儀供應儀采用斯托克斯原理和(he)比爾定(ding)(ding)律測定(ding)(ding)粉塵粒度(du)分布(bu)(分散度(du))。與常規方法(fa)相(xiang)比省(sheng)去天平稱重和(he)顯(xian)微(wei)鏡數數等繁(fan)雜(za)工作(zuo)。讀數直觀,測定(ding)(ding)結果自動(dong)儲(chu)存,也可(ke)由用戶(hu)根據需要(yao)選擇(ze),把(ba)結果通過顯(xian)示(shi)屏或打印機輸出。儀器(qi)具有掉電保護功能(neng),可(ke)儲(chu)存40 次粒度(du)分布(bu)數據,儲(chu)存的數據可(ke)根據用戶(hu)意圖進行清除。是粉塵實驗室使用的理想儀器(qi)。
MD-1粒度分析儀供應技術指標:
MD-1測定范圍:(粉塵(chen)粒度分布) 0~150μm(測定粉(fen)塵(chen)累積質(zhi)量篩上分布(bu),粉(fen)塵(chen)粒度(du)分級(ji)為150、100、80、60、50、40、30、20、10、8、7、6、5、4、3、2、1μm)
測定誤差:d<40μm時,粉塵粒度分布重(zhong)復測(ce)定(ding)誤(wu)差≤10%,
測(ce)量(liang)誤(wu)差: (120004a微粒標(biao)準物質為(wei)試驗粉(fen)塵) d50=10~13μm
工作電源:220V AC
外(wai)形尺寸:(430×285×300)mm
重 量:15kg